迷你2D成像空间光谱仪 

光源空间光谱分析

这款创新型的光谱仪用于光源空间光谱分析,既可以使用其自由空间模式来充分利用其空间解析能力,也可以像常规光谱仪那样的使用光纤输入。由于产品独特的紧凑型设计,MISS可以在光路的任何位置进行竖直和水平空间啁啾量测量,并可轻松集成至激光放大系统的各级中。

UV 到 SWIR
不同型号测量范围240 nm至1700 nm. 可按客户要求提供定制


分辨率
空间及光谱分辨率高


紧凑结构
可放置于光路的任何位置上


空间啁啾测量
水平和竖直


Spatially-resolved spectrum of a white light continuum


2D光谱特性分析可适用于多种常见类型激光器

传统的光谱仪通常可测量激光器的光谱,即激光中各个波长(或频率)的强度。大多数常规光谱仪可测量平均光谱(1D),而通过成像光谱仪则可了解激光束横截面不同位置上的光谱(2D)。

我们的MISS光谱仪为您提供一个二维图像,其中一个维度是沿光束某一直径中的位置,另一个维度是该位置的光谱。

因此,2D成像光谱仪能够进行激光器的空间分辨光谱特性分析。这对研究空间-光谱耦合现象有很大帮助,例如在超快激光器的压缩过程或宽带光谱的放大过程中常引起的空间啁啾现象。


产品参数

MISS modelsUV-VISIRYbTiSaUV-VIS-LIR-LTiSa-LBroadband-L
样式Standard beam sizeLarge beam (L)
光谱范围(nm)240 - 800 545 - 1100900 - 1090725 - 875250 - 700650 - 1100360 - 1040280 - 1095
分辨率2056 x 1542
3 Mpx
2056 x 1542
3 Mpx
2056 x 1542
3 Mpx
2056 x 1542
3 Mpx
2448 x 2048
5 Mpx
2448 x 2048
5 Mpx
2448 x 2048
5 Mpx
5472 x 3478
20 Mpx
光谱采样率0.29 0.270.110.110.230.220.280.16
光谱分辨率 1< 1 < 0.8< 0.35< 0.451 - 1.51 - 1.31 - 1.50.6 - 1.1
输入光束尺寸 (mm)> 6.3> 8.6> 12.5
最大空间分辨率 (μm)< 4.55.26.53.6
曝光时间
最小到最大 (ms)
0.024 - 1 0000.013 - 1 0000.0112 - 1 000
快门类型全局滚动
探测单元CMOS 12 Bits – 72 dB
PC接口USB 3.1
尺寸 (mm)102 x 101 x 52117 x 102 x 52
1 在光谱范围中分辨率最高部分的解析度。
2 由于滚动式快门,捕捉整个光束的实际最小曝光时间将受到光束尺寸或脉冲重复频率的限制(在单脉冲测量的情况下)光束尺寸越大,所需最小曝光时间越长,另一种情况下,重复率越慢,所需的最小曝光时间越长。

可根据需求提供定制版本。
MISS modelsSWIR 320SWIR 640SWIR 1280VSWIR 656 / LVSWIR 1296 / L
可达到光谱范围(nm)900 - 1700400 - 1700
典型光谱窗口Δλ (nm)500775800250 / 350500 / 700
分辨率320 x 256
0.08 Mpx
640 x 512
0.3 Mpx
1280 x 1024
1.3 Mpx
656 x 520
0.3 Mpx
1296 x 1032
1.3 Mpx
光谱采样率1.7 1.20.70.4 - 0.6
光谱分辨率 13.53.521 / 1.5
输入光束尺寸 (mm)6.49.610.23.3 / 6.56.5 / 12.5
最大空间分辨率 (μm)25.019.010.06.3 / 12.5
曝光时间
最小到最大 (ms)
0.01 - 500
快门类型全局
探测单元InGaAs 12 Bits
PC接口USB 3.1
尺寸 (mm)117 x 102 x 52117 x 102 x 52 / 102 x 101 x 52
1 在光谱范围中分辨率最高部分的解析度。

可根据需求提供定制版本。

Software

和Femto Easy所有其他产品一样,MISS的软件设计提供友好的用户体验以及支持触屏的轻松简单操控。